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如何在 OpticStudio 中模擬光學(xué)相干層析成像系統(tǒng)

發(fā)布日期:
2023-12-27

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光學(xué)相干層析成像(OCT)系統(tǒng)是斷層成像系統(tǒng),它通過(guò)圖像反射或散射出來(lái)的光來(lái)獲取被測(cè)物體橫截面或三維圖像。本文講述了光學(xué)相干層析成像(OCT)系統(tǒng)的設(shè)計(jì),并探討了如何使用OpticStudio進(jìn)行相干模擬。


01?簡(jiǎn)介


光學(xué)相干層析成像(OCT)系統(tǒng)是斷層成像系統(tǒng),它通過(guò)圖像反射或散射出來(lái)的光來(lái)獲取被測(cè)物體橫截面或三維圖像。盡管光線在OCT中穿透的深度以毫米數(shù)量級(jí)計(jì)量,但OCT具有安全性和高分辨率的特征,使得OCT極典型應(yīng)用于醫(yī)學(xué)生物組織成像。


OCT的光學(xué)系統(tǒng)由邁克爾遜干涉儀構(gòu)成,在參考鏡與樣品之間的反射光相干,這一現(xiàn)象表明了從樣品不同位置深度反射或散射出來(lái)的光與參考鏡的位置有關(guān)。


本文將介紹如何在OpticStudio中模擬商用的OCT。


02?系統(tǒng)模型


健康人眼的角膜和虹膜(A)以及視網(wǎng)膜組織(B)的橫截面如下圖所示。顏色深度的改變意味著反射光的強(qiáng)度改變,說(shuō)明內(nèi)部材料發(fā)生變化。


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一個(gè)典型的OCT系統(tǒng)如下圖。光束被均勻地分成兩束,分別進(jìn)入?yún)⒖急叟c樣品臂。其中一束光在體積樣品中疊加,從而減小掃描面積。光源是寬帶準(zhǔn)直光源,寬帶光源的選擇意味著低相干性和高精度的深度定位,從而使參考鏡與樣品之間的反射光相干。


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深度掃描,也稱為縱向掃描或a掃描,用于測(cè)量反射光的強(qiáng)度,作為反射光透過(guò)樣品距離的函數(shù)。在OCT系統(tǒng)中的不同位置進(jìn)行深度掃描,這一過(guò)程通常由參考鏡完成,參考鏡完成掃描后對(duì)比樣品反射光的光程與樣品、參考鏡之間光路的光程差。


通過(guò)在X或Y方向上旋轉(zhuǎn)掃描鏡實(shí)現(xiàn)橫向、縱向或b掃描,使探測(cè)光在樣品區(qū)域上平移。


我們將從商用OCT系統(tǒng)中獲得設(shè)計(jì)規(guī)格。軸向分辨率由光源特性(相干長(zhǎng)度)決定,大約為5 μm。橫向分辨率由光束聚焦在樣品處的光斑大小決定,設(shè)置為15 μm。選用800 nm范圍內(nèi)的光以防止光在生物組織中被吸收,影響光穿透力。


03?光源規(guī)格

OCT將干涉測(cè)量法與寬帶近紅外光結(jié)合使用。寬帶光源具有理想的分辨率,而波長(zhǎng)決定了光在樣品材料中的穿透深度。本例中,我們將使用中心波長(zhǎng)為840 nm、FWHM為60 nm的光源,軸向分辨率為5μm:


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本例超發(fā)光二極管的光譜特性也可以從商用超發(fā)光二極管中獲取。在超發(fā)光二極管發(fā)光過(guò)程,選用用于生物成像的常用波長(zhǎng)和具有高分辨率的寬帶光源。我們將忽略用于光線準(zhǔn)直的光學(xué)器件,并從光線進(jìn)入干涉儀開始建模。

OpticStudio有兩種方式來(lái)定義寬帶光源,第 一種方式為在適當(dāng)范圍內(nèi),定義多個(gè)系統(tǒng)波長(zhǎng);第二種方式將相干長(zhǎng)度作為光源屬性定義。相干是OCT系統(tǒng)的必要特征,因此我們將使用“將相干長(zhǎng)度作為光源屬性定義”的方法,并允許OpticStudio通過(guò)以下方式進(jìn)行帶寬計(jì)算和采樣:

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表面設(shè)置如下圖所示:

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04?創(chuàng)建系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)


為了將相干系統(tǒng)模擬出來(lái),并且一次能追跡多條光線,我們將使用OpticStudio非序列模型建模。在這一環(huán)節(jié)中,我們必須進(jìn)行光線追跡,同時(shí)為了解邁克爾遜干涉儀里所有反射與透射光的光路,需要勾選“Split NSC Rays”。

如何在 OpticStudio 中模擬光學(xué)相干層析成像系統(tǒng)

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OCT的測(cè)試原理:使用寬帶低相干性的光源,通過(guò)邁克爾遜干涉儀產(chǎn)生干涉信號(hào),并通過(guò)干涉信號(hào)去計(jì)算樣品內(nèi)反射光的具體位置。我們將運(yùn)用自由空間光學(xué)來(lái)擺放相關(guān)器件,使用分束器將光線分束,參考鏡放置在參考臂的位置上,樣品模型放置在樣品臂的位置上。系統(tǒng)數(shù)據(jù)以及相關(guān)參數(shù)定義如下方的非序列元件編輯器所示。


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通過(guò)OpticStuido創(chuàng)建兩個(gè)分束器,分別為物體2與物體3,物體類型為“多邊形物體”,它們是由45°的棱鏡組成。在物體屬性選項(xiàng)中選擇數(shù)據(jù)文件“Prism45.pob”。


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為了將分束器模擬出來(lái),兩個(gè)棱鏡需要在分光面(斜面)鍍上透過(guò)率為50%的膜層。在OpticStudio按照如下的設(shè)置定義膜層Coating_I.50,其中數(shù)字代表光透過(guò)表面的百分比。


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另外,我們必須防止分束器的棱鏡移動(dòng),這會(huì)導(dǎo)致兩個(gè)棱鏡間的空氣間隙改變或分光面發(fā)生偏移,從而導(dǎo)致分束器將光線分束的結(jié)果不準(zhǔn)確。為了保證兩個(gè)棱鏡邊緣對(duì)齊,物體3需要將物體2設(shè)置為參考物體,這一設(shè)置定義了所有相對(duì)于物體2所改變的位置參數(shù),使得對(duì)物體2的任何改變都將關(guān)聯(lián)到物體3。


為了防止分束器與光源堆疊,分束器和光源之間在Z軸方向有一定的距離。分束器的兩個(gè)棱鏡的材料選用玻璃N-BK7,設(shè)置調(diào)整棱鏡尺寸的縮放因子為正數(shù),默認(rèn)值為2mm。通過(guò)參考第 一個(gè)棱鏡,就能在Z軸方向上定義第二個(gè)棱鏡位置(將棱鏡按寬度分開,是縮放因子的2倍),傾斜X(180°)。


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05?定義樣品臂


當(dāng)光線分束后,其中一束光的傳輸路徑必須經(jīng)過(guò)掃描鏡、聚焦透鏡與樣品。本例中,我們將Z方向的光路定義為參考臂,Y方向的光路定義為樣品臂。物體4(反射鏡)的物體類型為矩形,材料為“MIRROR”,進(jìn)行橫向掃描。反射鏡的位置坐標(biāo)(0,20,20),使反射鏡略高于分束器的中心,傾斜X(45°)為橫向掃描的起點(diǎn),改變傾斜角并進(jìn)行掃描。X和Y的半寬應(yīng)該足夠大才能去獲取整體光束,此處X,Y的半寬值都設(shè)置為7.5 mm。


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物體5是一個(gè)聚焦透鏡,因?yàn)闃悠诽幍墓獍叽笮Q定了橫向分辨率。本例從有效焦距為50 mm的一個(gè)簡(jiǎn)單的平凸透鏡開始,并通過(guò)優(yōu)化來(lái)找到理想聚焦點(diǎn)。將聚焦透鏡(平凸透鏡)的物體類型設(shè)置為“Standard Lens”(標(biāo)準(zhǔn)透鏡)。聚焦透鏡的坐標(biāo)(0,20,40),使聚焦透鏡與掃描鏡保持水平,并保持20mm的距離(該距離在兩者的水平位置距離中是任意的),聚焦透鏡的材料為N-BK7。參數(shù)1到參數(shù)9定義了聚焦透鏡的光焦度,半徑值為25mm,對(duì)于球面鏡而言,圓錐系數(shù)1和圓錐系數(shù)2都為0,凈孔徑1、2與邊緣孔徑1、2設(shè)置為10mm,厚度設(shè)置為5mm,對(duì)于本例的聚焦透鏡的后表面為平面,在非序列模式下,半徑2為0。


物體6為樣品,我們將從一個(gè)簡(jiǎn)單的反射面模型開始,在反射面上可能會(huì)產(chǎn)生相干反射。將反射面的物體類型設(shè)置為矩形探測(cè)器,材料為MIRROR,光在反射面上反射,我們將觀察到樣品處的光線。樣品應(yīng)與聚焦透鏡對(duì)齊,距離約為50mm(聚焦透鏡的的理想焦點(diǎn)將通過(guò)優(yōu)化找到)。光斑大小約為15μm,半寬為0.05mm、X和Y的像素?cái)?shù)為100將使我們能夠分辨出光斑。


06?參考臂


該部分只需要一個(gè)平面參考鏡,即物體7,它可以在Z方向上調(diào)整位置以改變光程差(深度掃描)。物體7的物體類型為矩形探測(cè)器,材料為MIRROR,它的位置應(yīng)與光源和分束器的位置對(duì)齊。在“物體7上的Z位置求解”求解類型為拾取,樣品對(duì)于樣品臂y方向偏移20mm。根據(jù)系統(tǒng)找到光程差為0的位置。X,Y半寬為7.5mm,X,Y像元數(shù)為100,為系統(tǒng)提供了足夠的探測(cè)能力。


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07?輸出集合


當(dāng)表面類型為反射面時(shí),非序列模式下系統(tǒng)將自動(dòng)追跡從樣品、參考鏡反射到分束器的光線。這是非序列模式相對(duì)于序列模式的主要優(yōu)勢(shì),對(duì)于序列模式,需要手動(dòng)定義才能進(jìn)行指定光線追跡。


需要一個(gè)發(fā)散透鏡來(lái)觀察邁克爾遜干涉條紋。物體8的物體類型為“Standard Lens”(標(biāo)準(zhǔn)透鏡),材料為N-BK7,坐標(biāo)(0,-20,20),收集光線(回到分束器的光線,在分束器下方) 。除半徑1為-20 mm和厚度為1 mm外,發(fā)散透鏡參數(shù)設(shè)置與聚焦透鏡參數(shù)設(shè)置一致。



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物體9在發(fā)散透鏡的下方,物體類型為矩形探測(cè)器,坐標(biāo)為(0,-30,20),傾斜X(90°)使表面與光線傳輸方向正交。X、Y半寬為7mm,X、Y像元數(shù)為 100。通過(guò)輸入以上參數(shù),可以對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行模擬。


08?優(yōu)化


主要針對(duì)樣品的光斑尺寸進(jìn)行優(yōu)化。評(píng)價(jià)函數(shù)需要輸入兩個(gè)相關(guān)的初始操作數(shù):NSDD,設(shè)置為0,清除探測(cè)器之前的所有參數(shù)數(shù)據(jù);NSTR,設(shè)置為1,描述光線追跡。優(yōu)化光斑尺寸的操作數(shù)為NSDD,根據(jù)結(jié)果來(lái)確定像素# (均方根半徑為Pix#=-9);為了找到理想焦點(diǎn),目標(biāo)值設(shè)置為0,而權(quán)重應(yīng)該為非0。為了確保光線能到達(dá)探測(cè)器,必須再定義一個(gè)操作數(shù),當(dāng)沒有光線通過(guò)探測(cè)器時(shí),光斑尺寸將為0,即定義操作數(shù)NSDD像素#=-3,權(quán)重為0,從而結(jié)合定義一個(gè)具有目標(biāo)的操作數(shù)(OPGT),以確保光線能達(dá)到探測(cè)器。


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為了找到理想的光斑大小,將聚焦透鏡參數(shù)(半徑與厚度)、探測(cè)器的位置設(shè)置為變量。優(yōu)化后的均方根半徑為10μm。焦距沒有顯著變化,大約為48.8mm,樣品在Z軸方向上移動(dòng)到90.113mm。下面顯示的是優(yōu)化前(左)和優(yōu)化后(右)的光斑大小。

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09 OCT模擬


時(shí)域

深度掃描基于相干門和掃描鏡位置,只有當(dāng)光程差在相干長(zhǎng)度內(nèi),在樣品與參考鏡這兩條路徑的光才會(huì)產(chǎn)生干涉信號(hào)。這就是我們使用低相干寬帶光源的原因,因?yàn)槎滔喔砷L(zhǎng)度可以讓我們能準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)樣品中干涉信號(hào)來(lái)源的位置。通過(guò)反射光的強(qiáng)度逐個(gè)像素地重新創(chuàng)建樣品的圖像,相干門僅用作識(shí)別樣品內(nèi)反射光的位置。


我們以相干長(zhǎng)度為20mm開始模擬,因?yàn)檫@給了我們一個(gè)更大的誤差范圍,以便找到正確的反射光位置,當(dāng)找到大致位置后就能縮短光源的相干長(zhǎng)度。

此外,我們將使用單個(gè)表面來(lái)代表樣品。類似于樣品中次光源發(fā)光,意味著參考鏡將只改變光路長(zhǎng)度。為了確保光程差在相干長(zhǎng)度內(nèi),在調(diào)整參考鏡位置時(shí),觀察樣品內(nèi)反射點(diǎn)的位置變化。


通過(guò)使用探測(cè)器查看器中的“Coherent Irradiance”(相干輻照度)來(lái)分析這兩條光路之間的干涉信號(hào)強(qiáng)度。這一步操作可在探測(cè)器查看器的“設(shè)置”中完成,之前的探測(cè)器查看器曾使用非相干輻照度。在之后的光線追跡將追蹤每條光線的相位,以便分別添加用于相干計(jì)算的復(fù)數(shù)部分。


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當(dāng)大量光線進(jìn)入系統(tǒng)時(shí),可清楚地辨別干涉條紋。對(duì)于20mm的相干長(zhǎng)度,我們至少需要幾百萬(wàn)條光線,第 一個(gè)示例使用了1500萬(wàn)條光線;更短的相干長(zhǎng)度需要更多的光線。樣品在Z軸方向上的位置為90.113mm,通過(guò)光線追跡發(fā)現(xiàn)干涉只發(fā)生在小于參考鏡位置125.113mm的范圍內(nèi)。已知相干長(zhǎng)度為20mm,相干長(zhǎng)度參考上限應(yīng)與下限相差10mm。在本例中,我們可以看到干涉條紋在參考鏡位置115.113之外消失。將參考鏡放置在這些極限值之間會(huì)生成亮條紋。下面幾張圖顯示的是中心和極限位置下的的光線追跡干涉結(jié)果圖。



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我們將在近似極限之間的中點(diǎn)處找到光程差為零(OPD=0)的位置,即121.113 mm。隨著相干門內(nèi)的參考鏡位置范圍的減小,縮短相干長(zhǎng)度直到光斑大小為12μm,當(dāng)在反射點(diǎn)位置時(shí)便會(huì)逐漸提高測(cè)試精度。下面顯示的是焦距為5mm時(shí)的干涉圖,需要8000萬(wàn)條光線才能看到干涉條紋。


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掃描光源

當(dāng)前系統(tǒng)可以通過(guò)傅立葉變換進(jìn)行計(jì)算。光譜儀或掃描光源的波長(zhǎng)可用于觀察光程差對(duì)調(diào)制光譜的影響。若系統(tǒng)選用光譜儀,則需要在系統(tǒng)中增加設(shè)計(jì)工作,而掃描光源可以通過(guò)簡(jiǎn)單地更改光源參數(shù)來(lái)模擬。將相干長(zhǎng)度設(shè)置為0并定義單色光波長(zhǎng),我們可以在相同的范圍內(nèi)掃描窄帶光源。作為波長(zhǎng)的調(diào)制函數(shù),我們將觀察到相干輻照度的峰輻照度值,且振蕩周期與樣品內(nèi)參考鏡和反射點(diǎn)之間的光程差有關(guān)。將樣品創(chuàng)建為單個(gè)表面,我們將只看到一個(gè)調(diào)制頻率,體積樣品疊加在每個(gè)反射點(diǎn)的位置。對(duì)信號(hào)進(jìn)行傅立葉變換,作為位置的函數(shù),并對(duì)信號(hào)進(jìn)行線性掃描,該函數(shù)中的極大值對(duì)應(yīng)于樣品中的強(qiáng)反射點(diǎn)。


掃描光源(SS-OCT)使用一個(gè)固定的參考鏡,光譜輸出的調(diào)制程度決定光程差。對(duì)于我們的樣品表面,意味著在一個(gè)參考位置上進(jìn)行波長(zhǎng)掃描時(shí),得到的信息只包含一個(gè)光程差。對(duì)于體積樣品,樣品中的每個(gè)次光源發(fā)光都會(huì)對(duì)帶來(lái)光程差。如前面所述,使用單個(gè)表面代表樣品,以便我們使用一個(gè)光程差檢測(cè)光譜振蕩而不是使用樣品中次光源發(fā)出的光所對(duì)應(yīng)的多個(gè)光程差來(lái)進(jìn)行檢測(cè),并且為了獲得高分辨率,我們需要使用小波長(zhǎng)步長(zhǎng)。


為了在OpticStudio中觀察這一影響,我們將參考鏡放在小光程差的位置(在Z軸方向上的位置為124.113mm),并通過(guò)調(diào)整波長(zhǎng)大小來(lái)觀察振蕩。使用更大的光程差(參考鏡在Z軸125.113 mm位置處),將導(dǎo)致更快的振蕩。下面幾幅圖顯示光程差大約為2mm時(shí)相干功率的變化圖。


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